[방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]
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작성일 23-01-29 19:51
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따라서 Bragg각인 θ를 결정 내의 모든 조의 면에 대하여 고정하고 각 조의 면은 특정한 d와 θ의 값에 대하여 Bragg 법칙을 만족하는 x선 파장을 선택하여 회절한다. 그 결과 회절한 각각의 빔은 파장이 다르게 된다.
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정대의 면에서 나온 Laue 반사가 원추의 표면 위에 놓인다는 사실을 스테레오 투영으로 잘 나타낼 수 있따 그림 3-12에서 결정은 기준구의 중심에 있고 입사빔 는 왼편으로 들어오고 투과빔 T는 오른편으로 나간다. 정대축을 나타내는 점은 기본원의 원주 위에 있고 이 정대 내에 속하는 다섯 개 면의 극점 에서 는 그림에 나타낸 대원 위에 있따 이 중의 한 면, 예를 들어 가 회절한 빔의 방향은 다음과 같이 찾을 수 있따 ,,(찾으려는 회절 방향)와 T는 모두 같은 평면 위에 있따 그러므로 는 ,,를 지나는 대원 상에 있따 와 사이의 각은 (90°-θ)이고 그림에서 나타낸 바와 같이 는 의 반대편 등각인 점에 있따 이와 같이 찾은 회절빔 에서 는 정대축이 축인 원추와 기준구가 교차하는 하나의 소원 위에 있따
다. 이 방법에서는 x선 관에서 나온 연속스펙트럼인 백색 x선을 고정한 단결정에 맞춘다. 그 결과 회절한 각각의 빔은 파장이 다르게 된다된다. 이 용어는 어떤 특정한 뜻을 포함하고 있는 것은 아니고 반점의 주기적인 배열을 의미하지도 않는다. 그림 3-11(a)에서 보듯이 원추의 한 면은 투과빔에 대하여 접하고 정대축(Z.A.)과 투과빔과 만드는 경사각 φ는 원추의 정각(apex angle)의 반과 같다. 그러나 사진에 그린 선으로 나타낸 바와 같이 반점은 어떤 곡선 위에 놓인다. 이 방법에서는 x선 관에서 나온 연속스펙트럼인 백색 x선을 고정한 단결정에 맞춘다.
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같은 곡선 위에 있는 반점은 같은 정대에 속하는 면에서 나온 반사이다.[방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]
Laue 법은 처음으로 사용한 회절법이며 Laue 경의 본래 실험을 재현한다. 그림에서 보듯이 필름은 필름중심을 지나는 가상의 타원으로 원추와 만난다. 이 반점의 배열을 보통 무늬(pattern)라고 한다.
순서
어느 방법이든 회절빔은 그림3-10에 나타낸 것과 같은 반점 배열을 필름에 형성한다. 정대면에서 나온 회절 반점은 이 타원에서 배열한다. 따라서 Bragg각인 θ를 결정 내의 모든 조의 면에 대하여 고정하고 각 조의 면은 특정한 d와 θ의 값에 대하여 Bragg 법칙을 만족하는 x선 파장을 선택하여 회절한다. 각 φ가 45°를 넘으면 배면 반사무늬를 기록하기 위해 결정과 x선 원 사이에 놓인 필름은 그림3-11(b)에서 보듯이 원추와 쌍곡선으로 만난다. 이런 일은 한 정대의 면에서 나온 Laue 반사는 모두 그 정대축을 축으로 하는 가상적인 원추의 표면 위에 있다는 사실 때문이다. 이 곡선은 보통 투과무늬에서 타원이나 쌍곡선이고 [그림 3-10(a)] 배면 반사(back-reflection Laue method)에서는 쌍곡선이다[그림3-10(b)].
Laue 법은 처음으로 사용한 회절법이며 Laue 경의 본래 實驗(실험)을 재현한다.
